Предолжен новый метод исследования сплошности редокс-активных покрытий

Steve Jurvetson/Flickr

Ученые химического факультета МГУ имени М.В. Ломоносова в сотрудничестве с коллегами из Института общей и неорганической химии имени Н.С. Курнакова (ИОНХ) РАН исследовали сплошность редокс-активных пленок гексацианоферратов переходных металлов методом спектроскопии электрохимического импеданса. Предложенный метод оказался более эффективным, чем те, что применялись ранее. Статья была опубликована в журнале Electrochimica Acta.

Исследование электродных процессов в пленках электроактивных органических и неорганических соединений, осажденных на поверхности электрода, получило широкое развитие в последние десятилетия, став самостоятельным и интенсивно развивающимся направлением современной электрохимии. Пленки гексацианоферратов переходных металлов относятся к числу интересных редокс-активных соединений и используются для модификации поверхности электродов. Такие пленки могут использоваться в качестве электродных материалов для создания новых источников энергии, электрохромных покрытий, электрокатализа важных реакций, электроаналитических определений и для защиты от коррозии.

«На примере исследования пленок гексацианоферратов переходных металлов в работе продемонстрировано, что метод спектроскопии электрохимического импеданса может выступать в качестве независимого метода оценки сплошности покрытия электрода. Показано, что падение сопротивления переноса заряда с увеличением количества осаждаемого вещества, что, казалось бы, противоречит закону Ома, обусловлено увеличением площади границы электрод/материал, а увеличение количества осаждаемого вещества в широком диапазоне не приводит к увеличению сопротивления при условии сплошности покрытия», — говорит первый автор статьи, младший научный сотрудник лаборатории электрохимических методов химического факультета МГУ Мария Комкова.

Авторы из МГУ предложили и реализовали концепцию оценки сплошности редокс-активного покрытия методом спектроскопии электрохимического импеданса, не прибегая к наиболее часто используемому для таких задач методу электронной микроскопии.

«Предлагаемый подход позволяет отказаться от методов электронной микроскопии для исследования сплошности редокс-активных покрытий, что не только делает процесс анализа поверхности менее трудоемким, ресурсо- и времязатратным, но и позволяет исследовать образцы сложной геометрии, что зачастую невозможно осуществить микроскопическими методами», — заключает Мария Комкова.